La microscopía electrónica de barrido nos permite explorar un universo oculto, donde estructuras y superficies imperceptibles a simple vista revelan su complejidad. A través de esta poderosa técnica, podemos descubrir un mundo microscópico lleno de formas, texturas y patrones sorprendentes, desde cuevas de cristales hasta bosques de nanoestructuras o enjambres de microorganismos en la cabeza de un alfiler. El Centro de Nanotecnología y Materiales Avanzados de la Universidad Católica (CIEN-UC) invita a participar en el “Segundo Concurso de Micrografía Electrónica CIEN-UC”, con el objetivo de premiar las imágenes más destacadas que capturen la fascinante intersección entre ciencia y arte dentro de la investigación científica.
¿QUIENES?
El concurso está dirigido a todos los usuarios y clientes (personas naturales) del servicio FESEM del CIEN-UC vinculados a alguna institución pública o privada.
¿COMO?
Para postular al concurso, es necesario completar el siguiente formulario con todos los campos obligatorios y adjuntar la imagen a participar. Las imágenes presentadas deben haber sido obtenidas con el microscopio FESEM Quanta FEG 250 del CIEN-UC entre el 1 de enero de 2022 y el 31 de agosto de 2024, y deben corresponder a muestras utilizadas en proyectos de investigación científica. Se permite acompañar la imagen principal con dos imágenes adicionales de la misma muestra que ayuden a comprender mejor la interpretación.
La fecha límite para el envío de las imágenes es el martes 15 de octubre de 2024.
Puedes consultar las Bases y condiciones aqui