Oscilloscopi e Sonde di Nuova Generazione: Tecniche di Misura per l’Elettronica Generale e di Potenza

Siamo lieti di invitarti all'evento di formazione esclusivo “Oscilloscopi e Sonde di Nuova Generazione: Tecniche di Misura per l’Elettronica Generale e di Potenza”

Il seminario, organizzato e offerto da Rohde & Schwarz e Batter Fly, avrà sia una parte teorica che una parte pratica con esperimenti live.

Argomenti:

Oscilloscopi e sonde in applicazioni di elettronica generale e di potenza
Relatori
Ing. Micheal Demstchenko e Ing. Luigi Lorusso
Rohde & Schwarz

ABSTRACT
Nelle applicazioni dell’elettronica di potenza la caratterizzazione dei segnali richiede prestazioni sempre più sfidanti in particolare con l’introduzione di dispositivi «wide bandgap» come SiC e GaN. Quali caratteristiche deve avere l'oscilloscopio in questo tipo di misure? La sonda dell’oscilloscopio poi rappresenta il primo anello della catena di misura e influenza la correttezza dei risultati, pertanto scegliere la corretta tipologia di sonda nei vari scenari di misura diventa una operazione essenziale. In particolare il Common Mode Rejection Ratio (CMRR) è un parametro fondamentale in questo tipo di misure. L’utilizzo di semiconduttori in tecnologia SiC e GaN è particolarmente critico e rende necessario l’uso di sonde opto-isolate nel sistema di misura.

Misurare la qualità delle alimentazioni (Power Integrity)
Relatori
Ing. Micheal Demstchenko e Ing. Luigi Lorusso
Rohde & Schwarz

ABSTRACT
Per garantire il corretto funzionamento dei dispositivi digitali come µ-processori, FPGA, memorie, le misure di integrità del segnale di Potenza diventano un’operazione essenziale. Il ripple deve essere sempre più contenuto e differenti approcci in termini di probing possono alterare i risultati di misura. La possibilità di analisi nel dominio della frequenza (analisi di spettro) aiuta a risalire più velocemente alla causa di alcuni problemi. I moderni componenti digitali risentono di problematiche EMI per cui l’impedenza della rete di distribuzione delle Potenza (PDN) deve essere mantenuta il più bassa possibile a qualsiasi frequenza. Disturbi contenuti sui segnali di alimentazione hanno diretto impatto sulla corretta integrità del segnale dei dispositivi digitali.

Biografie:

Luigi Lorusso, nato a Cremona nel 1988, si laurea nel 2015 in Ingegneria Elettronica al Politecnico di Milano, con una tesi magistrale su “Inkjet-Printed on paper Organic TFT”, sviluppata presso l’Istituto Italiano di Tecnologia. Inizia a lavorare in Rohde & Schwarz nel 2015 come Inside Sales Engineer, sviluppando le conoscenze tecniche e pratiche sugli strumenti di misura, quindi si dedica al supporto tecnico ai Channel Partner di Italia e Spagna, diventando pienamente responsabile dei primi nel 2022.
Appassionato di calcio e basket, gioca attualmente a pallavolo, assiduo lettore di manga e fumetti ed amante del buon cibo, non disdegna la cucina straniera.

Michael Demtschenko studied Electrical and Information Technology at University of Applied Sciences Northwestern Switzerland. He has worked in several positions at ABB since 2007 and has a background in testing, commissioning and engineering with power semiconductor applications for mediumvoltage converters implemented in wind turbines. This was followed by a position as Technical Customer Support for
the application of ABB’s high power semiconductors. In 2022 he joined Axpo as a project engineer for excitation of the synchronous generator. Michael joined Rohde & Schwarz in February 2024, and is responsible for developing the Power Electronics business in Europe.

Agenda:

08.45 - 09.15
Registrazione

09.15 - 09.30
Introduzione Dario Scarano (Rohde & Schwarz) e Gianmarco Moroni (Batter Fly)

09.30 - 11.00
Parte 1 - Oscilloscopi e sonde in applicazioni di potenza (M. Demstchenko, inglese)
• L'oscilloscopio nelle applicazioni di potenza
• Scegliere la sonda corretta nelle applicazioni di potenza
• L’impatto del CMRR delle sonde sulle misure
• Le sonde Opto-isolate nelle applicazioni di potenza

11.00 - 11.30
Coffe break con area riservata alla prova della strumentazione di misura utilizzata dai relatori

11.30 - 13.00
Parte 2 - Misurare la qualità delle alimentazioni (L. Lorusso, italiano)
• Caratterizzare il ripple: l'impatto di differenti tipologie di sonde e l'analisi nel dominio del tempo e della frequenza (analisi di spettro)
• Caratterizzare l'impedenza della Power Delivery Network (PDN) con l’oscilloscopio
• Impatto della qualità delle alimentazioni sull'integrità dei segnali digitali

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Centro Direzionale - Isola E6
V. Domenico Aulisio, 80143 Napoli NA
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