Oscilloscopi e Sonde di Nuova Generazione: Tecniche di Misura per l’Elettronica Generale e di Potenza

Siamo lieti di invitarti all'evento di formazione esclusivo “Oscilloscopi e Sonde di Nuova Generazione: Tecniche di Misura per l’Elettronica Generale e di Potenza”

Il seminario, organizzato e offerto da Rohde & Schwarz e Batter Fly, avrà sia una parte teorica che una parte pratica con esperimenti live.

Argomenti:

Oscilloscopi e sonde in applicazioni di elettronica generale e di potenza
Relatori
Ing. Tommaso Tessitore e Ing. Luigi Lorusso
Rohde & Schwarz

ABSTRACT
Nelle applicazioni dell’elettronica di potenza la caratterizzazione dei segnali richiede prestazioni sempre più sfidanti in particolare con l’introduzione di dispositivi «wide bandgap» come SiC e GaN. Quali caratteristiche deve avere l'oscilloscopio in questo tipo di misure? La sonda dell’oscilloscopio poi rappresenta il primo anello della catena di misura e influenza la correttezza dei risultati, pertanto scegliere la corretta tipologia di sonda nei vari scenari di misura diventa una operazione essenziale. In particolare il Common Mode Rejection Ratio (CMRR) è un parametro fondamentale in questo tipo di misure. L’utilizzo di semiconduttori in tecnologia SiC e GaN è particolarmente critico e rende necessario l’uso di sonde opto-isolate nel sistema di misura.

Misurare la qualità delle alimentazioni (Power Integrity)
Relatori
Ing. Tommaso Tessitore e Ing. Luigi Lorusso
Rohde & Schwarz

ABSTRACT
Per garantire il corretto funzionamento dei dispositivi digitali come µ-processori, FPGA, memorie, le misure di integrità del segnale di Potenza diventano un’operazione essenziale. Il ripple deve essere sempre più contenuto e differenti approcci in termini di probing possono alterare i risultati di misura. La possibilità di analisi nel dominio della frequenza (analisi di spettro) aiuta a risalire più velocemente alla causa di alcuni problemi. I moderni componenti digitali risentono di problematiche EMI per cui l’impedenza della rete di distribuzione delle Potenza (PDN) deve essere mantenuta il più bassa possibile a qualsiasi frequenza. Disturbi contenuti sui segnali di alimentazione hanno diretto impatto sulla corretta integrità del segnale dei dispositivi digitali.

Biografie:

Luigi Lorusso, nato a Cremona nel 1988, si laurea nel 2015 in Ingegneria Elettronica al Politecnico di Milano, con una tesi magistrale su “Inkjet-Printed on paper Organic TFT”, sviluppata presso l’Istituto Italiano di Tecnologia. Inizia a lavorare in Rohde & Schwarz nel 2015 come Inside Sales Engineer, sviluppando le conoscenze tecniche e pratiche sugli strumenti di misura, quindi si dedica al supporto tecnico ai Channel Partner di Italia e Spagna, diventando pienamente responsabile dei primi nel 2022.
Appassionato di calcio e basket, gioca attualmente a pallavolo, assiduo lettore di manga e fumetti ed amante del buon cibo, non disdegna la cucina straniera.

Tommaso Tessitore è Oscilloscope Sales Specialist per il Sud Europa in Rohde & Schwarz. Tommaso ha iniziato a lavorare nell'industria elettronica nel 1993.
Ha trascorso i primi 15 anni in un’industria delle telecomunicazioni riconosciuta in tutto il mondo dove ha guidato un team coinvolto nello sviluppo di ATE (Automatic Test Equipment) per Sistemi di Telecomunicazioni ottiche e di accesso a banda larga.
Dal 2008 al 2014 ha lavorato come Application Engineer e come Sales Engineer di oscilloscopi presso una delle principali aziende del settore T&M.
È entrato in Rohde & Schwarz nel 2017 con l’obiettivo di sviluppare il mercato degli oscilloscopi in Italia, Portogallo e Spagna.

Agenda:

08.45 - 09.15
Registrazione

09.15 - 09.30
Introduzione Dario Scarano (Rohde & Schwarz) e Gianmarco Moroni (Batter Fly)

09.30 - 11.00
Parte 1 - Oscilloscopi e sonde in applicazioni di potenza (L. Lorusso)
• L'oscilloscopio nelle applicazioni di potenza
• Scegliere la sonda corretta nelle applicazioni di potenza
• L’impatto del CMRR delle sonde sulle misure
• Le sonde Opto-isolate nelle applicazioni di potenza

11.00 - 11.30
Coffe break con area riservata alla prova della strumentazione di misura utilizzata dai relatori

11.30 - 13.00
Parte 2 - Misurare la qualità delle alimentazioni (T. Tessitore)
• Caratterizzare il ripple: l'impatto di differenti tipologie di sonde e l'analisi nel dominio del tempo e della frequenza (analisi di spettro)
• Caratterizzare l'impedenza della Power Delivery Network (PDN) con l’oscilloscopio
• Impatto della qualità delle alimentazioni sull'integrità dei segnali digitali

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Centro Direzionale - Isola E6
V. Domenico Aulisio, 80143 Napoli NA
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